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Ne ratez rien de l'actualité de Digital Surf sur l'imagerie, l'analyse de surfaces et la métrologie.
Analysez les paramètres de rugosité et d’état de surface selon les normes ISO 25178, ISO 4287, ISO 13565, ISO 21920, etc. et autres normes nationales
Paramètres ISO et de rugosité
Séparez les composants de rugosité et d’ondulation des surfaces à l’aide des techniques les plus avancées de filtrage ISO 16610.
Accédez aux paramètres ISO, notamment :
Calculez et affichez les paramètres 2D/3D ASME B46.1 (États-Unis), GB/T (Chine), DIN (Allemagne), JIS (Japon), NF (France), BSI (UK), UNI (Italie) et UNE (Espagne), etc.
Réalisez une analyse fonctionnelle :
Préparez vos données mesurées pour l’analyse en supprimant les points aberrants, les défauts locaux et le bruit.
Correction des données
Normalisez les surfaces et supprimez les artéfacts avant analyse. Ces outils incluent :
Analysez la géométrie de la surface : calculer des distances, aires, hauteurs de marche, volumes et bien plus encore.
Géométrie de la surface
Réalisez une analyse rapide et précise de la géométrie de la surface avec des outils pour mesurer :
Augmentez la plage du profilomètre. Utilisez la fonction d’assemblage (Stitching) pour étendre la plage de tous les axes (Z compris) et dépassez les limites de l’instrument.
Stitching (assemblage) de surfaces
Extrayez et analysez des régions d’intérêt, puis étudiez-les de la même manière que des surfaces mesurées entières.
Analyse de subsurface
Une fois une sous-surface ou une région d’intérêt extraite, elle peut être analysée exactement de la même manière qu’une surface complète – les paramètres sont calculés uniquement sur la sous-surface. Il est possible, par exemple, d’étudier la rugosité, la planéité et la coplanarité des plans sur les MEMS et les composants mécaniques et électroniques.
Analyse de coque (surface de forme libre)
Visualisation et analyse de la coque :
Réaliser une analyse métrologique sur des coques :
Comparaison de Coques mesurées à des modèles CAD :
Analyse de contour avancée
Réalisez une analyse avancée d’états de surface :
Analyse de particules et plus...
Analyse de particules
Analyse de Fourier et Ondelettes
Analyse 4D
Analyse d’épaisseur
Analyse de fibres
Réalisez une analyse corrélative et colocaliser les données d’un autre profilomètre ou microscope, avec le même logiciel !
Analyse corrélative
À gauche : colocalisation d’une image MEB et d’une image de microscope optique.
MountainsMap® Premium |
MountainsMap® Expert |
MountainsMap® Imaging Topography |
MountainsMap® Topography |
MountainsMap® Profile |
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Compatibilité des instruments |
Tous les instruments de mesure de profils et de surfaces |
Tous les instruments de mesure de profils et de surfaces |
Profilomètres surfaciques optiques produisant des cartes topographiques avec une image d’intensité et/ou de couleur
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Recommandé pour profilomètres surfaciques à capteurs optiques ou stylets produisant des cartes topographiques
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Profilomètres 2D à contact ou optiques |
Fonctionnalités clés |
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Rugosité du profil et analyse d’ondulation |
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Analyse de base des données de surface |
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Stitching (assemblage) d’images et de surfaces, suppression des aberrations et reconstruction multifocale |
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Support pour les formats de fichiers des profilomètres optiques |
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Modules optionnels |
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Analyse de profil avancée |
Option | Option | Option | ||
Paramètres de profils automobiles |
Option | Option | Option | ||
Analyse de topographie avancée |
Option | Option | |||
Analyse de particules |
Option | Option | Option | ||
Analyse de fibres d’images et topographie |
Option | Option | Option | ||
Analyse de contour |
Option | Option | Option | Option | |
Analyse de Contour avancée avec comparaison CAD |
Option | Option | Option | Option | Option |
Analyse d’épaisseur |
Option | Option | Option | ||
Changement de surface 4D |
Option | Option | |||
Dimensions critiques & Tranchée |
Option | Option | Option | ||
Analyse de lentilles |
Option | Option | Option | Option | |
Analyse de Fourier et Ondelettes |
Option | Option | Option | ||
Extension Coques (surface de forme libre) |
Option | Option | Option | ||
Topographie de Coque pour l’analyse métrologique |
Option | Option | Option | Option | |
Coque avec comparaison CAD |
Option | Option | Option | Option | |
Analyse de structures hélicoïdales (Twist) |
Option | Option | Option | Option | |
Analyse fractale multi-échelle |
Option | Option | Option | Option | |
Colocalisation pour l’analyse corrélative |
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La gamme suivante de modules optionnels pour des applications avancées et spécialisées est disponible pour la gamme MountainsMap®.