⇒ 高度な2Dフィルタリングテクニック – RC2からフォームを削除して粗さ/うねりフィルタをISO 16610に適用 – 直線または円形の構造化要素を使用してモルフォロジーフィルタを適用 – 選択した上限と下限の範囲内でFFTプロットを編集してノイズの多い断面を直接フィルタ処理。
⇒ MATLAB™互換性 – MATLAB™スクリプトをロードまたは記述して実行し、フィルタリングを含むカスタム操作を実行します。
⇒ 測定異常の補正 – データ補正ツール（しきい値、レタッチ、リサンプリング）を使用して、解析前に異常を排除し、解像度を改善します。
⇒ 表面機能の評価 – 支持領域曲線と深さ分布ヒストグラムを調べて表面機能を評価 – 断面を差し引いて摩耗を評価します。
⇒ スライド式断面の抽出 – 長い断面からサブ断面を抽出して、スライド式ウィンドウの許容値を確認します。
⇒ FFTベースのツールを使用して、プロセスと表面の相互作用およびその他の表面特性を解析します – 周波数スペクトルとパワースペクトル密度のプロットを表示します – 自己相関および相互相関の解析を実行します。
⇒ フラクタル解析 – 囲みボックスとモルフォロジカルエンベロープメソッドを使用して、断面のフラクタル次元を解析します。
⇒ 実質的に測定限界を克服する – オーバーラップゾーンの自動計算により、オーバーラップする断面を結合して、物理的な測定限界を実質的に克服します。
⇒ 同じ表面から抽出された一連の断面または複数の断面の統計解析 – 2D形状計で測定されたシリーズ断面または3D形状計で測定された表面をロードし、解析用の1つ以上の断面を抽出し、シリーズを解析します – プロセス制御のため、またはより信頼性の高い結果を得るために、同じ表面から統計的に抽出された一連の断面または複数の断面（トレンドプロット、散布図、ヒストグラム）を分析します。
以下を含む：
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以下のオプションモジュールとして利用可能：
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