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構造化された表面の粒子、細孔、粒子、島などを検出および解析するための包括的なツールセット
SEM画像（SEモードとBSEモード）、光学顕微鏡画像、地形データの直径と方向などの繊維形態を解析します。
重要な寸法を計算し、半導体製造プロセスにおけるラインエッジの粗さ/ライン幅の粗さを特徴づけます。
輪郭断面の基本的な幾何学的寸法記入と画像表面から抽出された平行輪郭など
高度な寸法と公差、DXF CAD比較、ゴシックアーチ
3D（「領域」）表面性状解析の高度な調査、パラメータ、フィルタ
高度な断面フィルタリング、フーリエ解析およびフラクタル解析、およびシリーズの断面の統計解析
自動車産業によって開発されたフルセットの断面パラメータで機能性能を評価します
表面進化を時間、温度、磁場または他の次元で解析
一対の表面または断面に基づいたグローバルまたはゾーン固有のインタラクティブな厚さ特性解析
イメージングシステム、センサーおよびレーザーアプリケーションにおける非球面およびプロファイルの解析またはシミュレーション
長さスケールまたは領域スケール解析に基づいたマルチスケール解析を実装します（以前はSfraxソフトウェアで）
FFTベースのテクスチャ解析、高度なFFTフィルタリング、ウェーブレットによるマルチスケール解析
フリーフォーム表面管理、複雑な形状の解析、高品質3D視覚化
シェルデータ用の計測ツールボックス（自由曲面）
測定シェルデータ（実データ） とCADモデル（ノミナル）または生成されたメッシュを効率的かつ容易に比較可能
応力スペクトロスコピーデータを解析: 応力曲線(応力‐距離曲線)および応力容量 接着の事象やナノインデンテーションを計測し、WLCモデルに適合
IV分光画像の3D可視化と解析および個々のIV曲線解析(CITSデータを含む)
スペクトルマップの処理、スペクトル画像データの補正とエンハンスメント、相関解析を実施する
分光データの可視化、処理、解析および相関 IR、ラマン、TERS、EDS/EDX、XRFなど
構成データのマルチチャネルキューブの完全な可視化と解析
自動車業界の第2世代のリード（ねじれ）解析
1つ以上の機器タイプからの表面データと画像データのコローカリゼーションと調整
