専門家から信頼されている表面解析ソフトウェア

最新のISO16610の高度なフィルタリング技術により、表面の粗さ成分とうねり成分を分離することができます。

以下を含むISOパラメータにアクセス:

• ISO 25178で定義された3Dパラメータには、高度(Sa、Sq、Ssk、Sku、Szなど)および機能(Smr、Smc、Sxp)パラメータが含まれます。
• ISO 4287および新しいISO 21290のプライマリおよび粗さパラメータ（Ra、Rq、Rsk、Rmr、Rdc、Rdq、RPcなど）。

ASME B46.1 2Dおよび3Dパラメータ(米国)、GB/T(中国)、DIN(ドイツ)、JIS(日本)、NF(フランス)、BSI(英国)、UNE(スペイン)、UNI(イタリア)を計算および表示など

機能解析の実施:

• Abbott – Firestoneベアリング比曲線と深度分布のヒストグラム。
• ある面を別の面から差し引くこと(摩耗)。
• 表面の最大3つの垂直スライスの材料/空隙容量比と厚さの計算。

解析前に表面を標準化し、アーティファクトを削除します。 ツールには次のものが含まれます。

• レベリング。
• 水平軸または垂直軸の反転。
• 1度刻みの回転。
• ゾーン抜き出し。
• 異常なスキャンラインの修正または削除。
• スパイクを除去するための閾値。
• 孤立したアーティファクトのレタッチ
• 測定データへのチップの影響を最小限に抑えるデコンボリューション。
• 不足しているデータポイントを埋めます。
• 表面の平滑化。
• 画像の解像度を上げるためのリサンプリング。

以下の測定ツールを使用して、表面形状の高速かつ正確な解析を実行します。

• 距離。
• 角度。
• 山頂および谷の領域。
• 突出と孔のボリューム。
• 表面と断面のステップ高。
• 共面性。

• 水平面上で重なる複数の測定値を自動的につなぎ合わせて、視野を広げます。
• 異なる高度の2つ以上の表面測定値を対話的に単一の表面にパッチして、解析の準備を整え、垂直範囲を拡大します。

• 長方形または非長方形のゾーンを抜き出します。
• 閾値処理によって表面からスライスを削除します。
• 表面をモチーフ(テクスチャセル)に自動的に分割し、「パーティションとレベリング」演算子を使用してサブ表面を抜き出し、それをレベリングします。

表面下または関心領域が抜き出されると、表面全体とまったく同じ方法で解析できます。パラメータは表面下のみで計算されます。 これにより、例えば、MEMSや機械部品や電子部品の平面の粗さ、平坦性、および同一平面性を解析することができます。

シェルの可視化と解析:

• STL、OBJ、PLY、3MFファイルを含む自由曲面(シェル)の読み込み、可視化、および解析
• 複数のスキャン軸を持つプロファイラーによって生成されたデータを解析
• すべての角度からデータを見る必要があるアプリケーションに役立ちます(付加製造とX線トモグラフィーを使用したスキャン等)
• シェルの領域を抜き出して個別に解析する
• シェルから表面とパラメトリック断面を抜き出す

シェルの計測解析を実行します。

• 表面の曲率と偏差を3Dで色として可視化
• 参照フォーム(平面、円柱、球)に合わせる
• ガウスのようなフィルタリングを適用して、滑らかな参照面を計算
• 自由曲面テクスチャパラメータを計算する: 高度パラメータ、ハイブリッド/空間パラメータ、容量パラメータ

測定したシェルとCADモデルを比較：

• 自動または手動でモデルを事前に位置合わせ
• フィッティングの微調整
• ユーザー定義のカラーパレットを使用して偏差を計算し、表示
• 詳細な解析（表面のテクスチャ解析など）を行うために、結果のシェルと偏差を生成

• 表面から垂直(x、z)または水平(x、y)の等高線(断面)を抜き出します。
• 単純な対話型ツールを使用して公称形状を定義し、幾何学的要素を輪郭に関連付けます
• 自動寸法測定ツールとインタラクティブツールを使用して、寸法(距離、半径、直径、角度を含む)を計算します
• 測定した輪郭をDXF形式またはユーザー定義の名義形式のCADデータと比較します
• 必要に応じて、大きな位置公差を含む公差を指定
• 拡大グラフィックで形状のズレを簡単に可視化
• 合格/不合格ステータスを含む結果のテーブルを自動生成
• ベアリングのゴシックアーチの解析

粒子解析:

• 複数の検出方法を使用して、粒子、粒子、島、隆起、孔、およびモチーフ(テクスチャセル)を自動的に検出してカウント
• いくつかの基準を使用して粒子をグループに分類
• クラスをリアルタイムでグラフィカルに可視化し、管理図、ヒストグラム、散乱プロットなどを作成

フーリエとウェーブレット解析

• 周波数解析 – インタラクティブな周波数スペクトル、インタラクティブなパワースペクトル密度、自己相関および相互相関
• 等方性、方向性、周期性の計算 – コンパスローズで主な表面方向を表示し、パラメーターを計算
• FFTプロットエディターを使用した表面のノイズ除去
• 離散ウェーブレットフィルタリング(3D表面および2D断面) – 複数のスケールレベルで表面または断面を可視化 – 粗さとうねりのスケールレベルを選択
• 連続ウェーブレット分解 – 現象が発生するスケールレベルと空間的位置の解析

4D解析

• 一連の表面または変換された画像を組み合わせて、時間、温度、磁場、または別の次元に関する4D解析を実施
• 表面、断面、点の変化を可視化し、変化する表面上をi移動し、プレゼンテーション用の動画を記録
• 表面テクスチャパラメーターの進化に関する統計を生成
• カルーネン・レーベ変換(主成分解析)を使用して、ノイズをフィルターで除外し、速度論的挙動の異なる領域を強調表示

厚さ解析

• 表面もしくは断面のペアを揃えて、「厚みペア」を作成
• 2つの界面（上層と下層）の間の厚さを解析
• 全体的な厚さパラメータを生成： 平均厚さ、最小/最大、標準偏差、歪度、尖度など。
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ファイバー解析

• 分離しているのか、接触しているのか、重なり合っているのか個々の繊維を定量化します。
• 専用の検出方法を使って、繊維と隙間を自動的に検出
• 繊維直径のヒストグラムを表示
• 繊維直径（平均、最低、最大、標準偏差）、平均繊維方向（繊維配向）を計算
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様々な機器(SEM、AFMなど)からの3D表面トポグラフィーデータと画像をコローカライゼーションして、表面の特徴を強調

• 3Dトポグラフィー(高度単位のz軸)または擬似3D画像(強度単位のz軸)に画像を重ね合わせる
• 広範なレンダリングオプションにアクセスし、オーバーレイの透明度レベルを設定
• 左: SEM像と光学顕微鏡像のコローカライゼーション。