ニュースレター
最新の画像、解析、測定に関するDigital Surfからのニュースを常に把握しておいてください。
SEM画像着色&向上
SEM画像を簡単に着色します:
詳細情報: wwww.digitalsurf.com/news/add-color-to-sem-images-in-only-a-few-steps/
SEM画像の修正と向上:
ステレオペアから3Dを再構築
詳細情報: wwww.digitalsurf.com/blog/7-tips-for-producing-sem-stereo-pairs/
4象限検出器を使用して取得した4つの画像から3D表面トポグラフィーを再構成します。
4画像からの3D再構築
詳細情報: wwww.digitalsurf.com/blog/using-a-four-quadrant-detector-in-3d-reconstruction/
ラインエッジの粗さ
EDS(EDX)マップまたはその他のスペクトル/構成データをSEM画像から再構成されたトポグラフィーと関連付けて、見事なレンダリングを作成します。
EDSマップで「3D」効果を作成
FIB - SEMトモグラフィー
強力な粒子解析ツールをSEMデータに適用し、SEM固有のオブジェクト認識を使用して画像内の特徴を自動的に識別して定量化します。
2D粒子解析
ファイバー解析
相関解析
左: SEM画像とAFMトポグラフィーのコローカライゼーション。
MountainsSEM® Premium |
MountainsSEM® Expert |
MountainsSEM® Color |
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機器の互換性 |
あらゆる走査電子顕微鏡(SEM) |
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製品の特徴 |
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クイックSEM画像着色 |
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基本的解析寸法ツール |
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画像修正と向上ツール |
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2または4象限SEM画像から超高速3D再構築 |
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単一SEM画像を即座に3Dに変換 |
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表面トモグラフィー上のEDS/EDXマップ オーバーレイ |
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オプションモジュール |
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相関顕微鏡 |
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2D粒子解析と特性評価 |
Option | Option | |
ファイバー解析 |
Option | Option | |
FIB-SEMトモグラフィーの可視化と解析 |
Option | ||
輪郭解析 |
Option | Option | |
シェル(自由曲面)のサポート |
Option | ||
重要な寸法と溝 |
Option | Option | Option |
高度な断面解析 |
Option | Option | |
高度なトポグラフィー解析 |
Option | Option | |
フーリエとウェーブレット解析 |
Option | Option | |
分光法 |
Option | Option | |
厚さ解析 |
Option | Option | |
4D表面変化 |
Option | Option |
MountainsSEM®では、高度かつ特別なアプリケーションに向けた以下のオプションモジュールがあります。