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MountainsSEM®の特徴

SEM画像着色&向上
  • SEM画像を素早く簡単にカラー化する「クリック&カラー」ツール
  • 画像修正と向上ツールの適用
ステレオペアから3Dを再構築
  • サンプルのチルトした画像を2枚とると、たった2~3秒で3D表面トポグラフィが再構築でき、正確な高さの値が得られます。
  • 正確な高度(値)を取得し、表面粗さを評価します
4画像からの3D再構築

4象限検出器を使用して取得した4つの画像から3D表面トポグラフィーを再構成します。

ラインエッジの粗さ
  • SEM画像で検出される帯域のエッジでラインエッジの粗さ(LER)とライン幅粗さ(LWR)を計算します。
EDSマップで「3D」効果を作成

EDS(EDX)マップまたはその他のスペクトル/構成データをSEM画像から再構成されたトポグラフィーと関連付けて、見事なレンダリングを作成します。

FIB - SEMトモグラフィー
  • 集束イオンビーム走査型電子顕微鏡画像シリーズの読み込み、表示、解析
  • アソシエイトトモグラフィーと化学解析
2D粒子解析

強力な粒子解析ツールをSEMデータに適用し、SEM固有のオブジェクト認識を使用して画像内の特徴を自動的に識別して定量化します。

ファイバー解析
  • 繊維が重なってる場合においても、繊維間や個々の繊維を定量化
  • 繊維の直径と配向を計算
  • SEM専用の繊維検出アルゴリズムを使用
相関解析
  • 異なる検出器からのSEM画像、またはAFMやEDS (EDX) などの他の測定機器からのデータと統合
  • SEM画像をスペクトル解析データとコローカライゼーション

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    MountainsSEM® Premium

    MountainsSEM® Expert

    MountainsSEM® Color

    機器の互換性

    あらゆる走査電子顕微鏡(SEM)

    製品の特徴

    クイックSEM画像着色

    基本的解析寸法ツール

    画像修正と向上ツール

    2または4象限SEM画像から超高速3D再構築

    単一SEM画像を即座に3Dに変換

    表面トモグラフィー上のEDS/EDXマップ オーバーレイ

    オプションモジュール

    相関顕微鏡

    2D粒子解析と特性評価

    Option Option

    ファイバー解析

    Option Option

    FIB-SEMトモグラフィーの可視化と解析

    Option

    輪郭解析

    Option Option

    シェル(自由曲面)のサポート

    Option

    重要な寸法と溝

    Option Option Option

    高度な断面解析

    Option Option

    高度なトポグラフィー解析

    Option Option

    フーリエとウェーブレット解析

    Option Option

    分光法

    Option Option

    厚さ解析

    Option Option

    4D表面変化

    Option Option
    付属
    Option
    オプションとして利用可能
    互換性がありません

    推奨オプションモジュール

    MountainsSEM®では、高度かつ特別なアプリケーションに向けた以下のオプションモジュールがあります。

    Chemical Cubes Module

    構成データのマルチチャネルキューブの完全な可視化と解析

    Fiber Analysis Module

    SEM画像(SEモードとBSEモード)、光学顕微鏡画像、地形データの直径と方向などの繊維形態を解析します。

    Critical Dimensions & Trenches Module

    重要な寸法を計算し、半導体製造プロセスにおけるラインエッジの粗さ/ライン幅の粗さを特徴づけます。

    Shell Extension Module

    フリーフォーム表面管理、複雑な形状の解析、高品質3D視覚化

    Spectroscopy Module

    分光データの可視化、処理、解析および相関 IR、ラマン、TERS、EDS/EDX、XRFなど

    Contour Analysis Module

    輪郭断面の基本的な幾何学的寸法記入と画像表面から抽出された平行輪郭など

    Particle Analysis Module

    構造化された表面の粒子、細孔、粒子、島などを検出および解析するための包括的なツールセット

    Advanced Topography Module

    3D(「領域」)表面性状解析の高度な調査、パラメータ、フィルタ

    Thickness Analysis Module

    一対の表面または断面に基づいたグローバルまたはゾーン固有のインタラクティブな厚さ特性解析

    Advanced Profile Module

    高度な断面フィルタリング、フーリエ解析およびフラクタル解析、およびシリーズの断面の統計解析

    Fourier & Wavelets Module

    FFTベースのテクスチャ解析、高度なFFTフィルタリング、ウェーブレットによるマルチスケール解析

    4D Surface Change Module

    表面進化を時間、温度、磁場または他の次元で解析

    30日間の無料トライアル

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